二次離子質譜儀原理

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二次離子質譜儀原理·相關網站分享資訊

  • services- 閎康

    www.ma-tek.com

    技術原理 材料經由帶有能量的入射離子轟擊而產生二次離子，二次離子經加速後進入二次離子質譜分析系統運用電、磁場的偏轉將離子按不同質量分開，而達到成份分析的目的。二次離子強度經過轉換可得到元素的濃度，而離子轟擊時間，可轉換成雜質 ...

  • 二次离子质谱法(SIMS) | 表面分析| 分析机能和原理 - 东丽

    www.toray.cn

    HOME > 分析机能和原理 > 表面分析 > 二次离子质谱法(SIMS) ... 将离子（通常是Cs+或是O2+)照射固体表面，伴随溅射（样品中的构成原子被释放到真空中的现象） ...

  • 飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS) | 表面分析| 分析机能和原理 - 东丽

    www.toray.cn

    超真空环境下向样品射入1次离子束，从样品的浅表层（1~3nm）释放出2次离子。将2次离子导入飞行时间（TOF型）质谱仪，就可以获得样品最表层的质谱。此时，再通过 ...

  • TOF-SIMS - NTHU MSE

    mse.nthu.edu.tw

    二次離子質譜儀(Secondary ion mass spectrometer，SIMS)的發展可追溯自1910年，湯姆 ... 二次離子質譜術的原理，如圖一所示，利用具1~100KeV能量的正(負)一次 ...

  • 奈米表面分析簡介 - 材料世界網

    www.materialsnet.com.tw

    ... 電子能譜儀(ESCA又名XPS)、掃瞄式電子顯微鏡(SEM) 、二次離子質譜儀(SIMS) ... 等五種做為例子，介紹其分析原理，並針對各種表面分析技術要求之差異，簡介 ...

  • 關於”二次離子質譜儀; SIMS”它的原理是? | Yahoo奇摩知識+

    tw.answers.yahoo.com

    2005年9月28日 - 3）元素（或組成）分析儀器：主要應用於分析表面定性及定量的組成，歐傑電子分析儀（AES）、二次離子質譜儀（SIMS）等。其特點係可鑑定存在於固體 ...

  • 二次中性粒子質譜分析儀介紹

    nanosioe.ee.ntu.edu.tw

    SNMS 就變為二次離子質譜儀(Secondary Ion Mass Spectrometer, SIMS)。 ... 原理、檢測功能，並與二次離子質譜儀(SIMS)、 Auger 電子能譜儀(AES)、 X 光電子能譜 ...

  • 二次离子质谱仪_百度百科

    baike.baidu.com

    跳到 质谱原理 - 二次离子质谱仪质谱原理. 编辑. Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术，二次离子质谱原理是基于一次 ...

  • SIMS(二次離子質譜) - 可靠度測試｜材料分析｜失效分析｜材料表面 ...

    www.eaglabs.com.tw

    樣品通過使用一次離子（通常是O或者Cs）來進行濺射/蝕刻，在濺射過程中形成的二次離子可以利用質譜儀（通常是四極矩或者磁性分析器）來進行提取和分析。二次 ...

  • 二次離子質譜- 維基百科，自由的百科全書 - Wikipedia

    zh.wikipedia.org

    二次離子質譜（英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析固體表面或者是薄膜 ... 它的原理除了採用離子槍轟擊激發以外，其餘與質譜儀完全相同。