ftir閎康
ftir閎康·相關網站分享資訊
services- 閎康
www.ma-tek.com技術原理 材料經由帶有能量的入射離子轟擊而產生二次離子，二次離子經加速後進入二次離子質譜分析系統運用電、磁場的偏轉將離子按不同質量分開，而達到成份分析的目的。二次離子強度經過轉換可得到元素的濃度，而離子轟擊時間，可轉換成雜質 ...
場發射歐傑電子能譜分析儀(FE-AES) - services- 閎康
www.ma-tek.comJEOL JAMP-9500F為一場發射式掃描歐傑電子能譜分析儀，具有半球型(HSA)的能量解析器，可以達到極佳0.05%的電子能量分辨率；並且擁有極高的掃描電子影像(SEM)解析度3nm，歐傑Mapping的解析度則可達到8nm。它是一種表面分析的精密儀器，可適用於表面5~8nm厚度物質之成份定性與半定量分析；除此之外，亦可搭配離子 ...
競爭產品分析 - services- 閎康
www.ma-tek.com透過利用層次去除技術(Delayers)還原各層電路，結合光學顯微鏡或電子顯微鏡，做 自動連拍拼接及縱向連結所做的還原工程，閎康科技可提供IC設計公司進行電路 ...
services- 閎康
www.ma-tek.comMaterial Analysis,Failure Analysis,Reliability Analysis, IC design debug, Services, 閎康,材料分析,結構分析,故障分析,失效分析,成份分析,非破壞分析,競爭力分析,電性,物性,3D OM,光學顯微鏡,3D x-ray,超音波顯微鏡,時域反射儀,微光顯微鏡,導電式原子力顯微鏡,掃描式 ...
services- 閎康
www.ma-tek.com圖-2 顯示吸取法的試片製備，先以FIB將取樣區減薄後，再以U形切割將薄片與樣品分離，最後以玻璃探針，以靜電吸附方式將其取出後，置於具碳膜的銅網上。這是目前最快速省時的TEM試片製備法，每個試片的製作工時在1小時以下，因此大量TEM試片的製作 ...
非破壞性分析 - services- 閎康
www.ma-tek.comMaterial Analysis,Failure Analysis,Reliability Analysis, IC design debug, Services, 閎康,材料分析,結構分析,故障分析,失效分析,成份分析,非破壞分析,競爭力分析, ...
原子力顯微鏡(AFM) 分析服務 - services- 閎康
www.ma-tek.com... Services, 閎康,材料分析,結構分析,故障分析,失效分析,成份分析,非破壞分析,競爭力分析, ... 二次離子質譜儀(SIMS) · X光光電子能譜儀(XPS) · 高解析X光繞射分析 ...
傅立葉轉換紅外光譜儀(FTIR) 分析服務 - services- 閎康
www.ma-tek.comFTIR是利用干涉儀產生干涉圖譜，經傅立葉轉換成紅外光光譜。紅外光光譜儀是觀測 物質吸收紅外光所引起振動和轉動能階 ...
X光檢測 - services- 閎康
www.ma-tek.com技術原理. 基本上，X-ray成像的方式，是利用穿透過被照射物體的X-ray，經過映像 裝置而形成可見影像，主要用來觀察IC中含 ...
雷射蝕刻去封膠 - services- 閎康
www.ma-tek.com技術原理. 利用雷射光束，將IC封膠部分灰化去除，此方式可精確掌控開窗大小，並 減少過度去除的風險，且降低影響IC電性 ...